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LED失效,静电击穿

2017/09/29





将不良样品用单颗机进行电性测试,测试条件:IF=20mA,VR=5V,测试状况如下:
  (VF规格:2.7—4.0V,IR规格: ≤10uA)
 
由以上测试结果可知,2PCS材料的VF、IR不在规格内,7PCS材料IR值超出规格,
3PCS材料VF、IR符合规格要求,经确认为良品。

2.抽样4PCS不良样品进行研磨分析,确认其焊线状况,图片如下:
由以上图片可知,线弧良好,符合我司规格要求。
2.3.将不良样品进一步溶胶,然后用小电流点亮确认其发光状况,发现晶片表面发光不均
存在严重的暗区(红色圈标示处),不良图片如下:
 
由以上图片可知,晶片点亮时有发光不均匀的现象,表面存在严重的暗区,此不良现象为静
电击伤所致。我司机台、桌面都有接地,作业时都有戴静电环及吹离子风扇,不会造成材被
静电击伤的现象。

3.分析结论
由以上分析可知,客户反应的缺亮及IR为静电击伤所致。
4.建议请客户确认在检验及使用过程中是否做好静电防护措施。(如机台、桌面是否接地,作业人员操作时是否戴静电环及吹离子风扇等)
 

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