LED失效,静电击穿
2017/09/29
将不良样品用单颗机进行电性测试，测试条件：IF=20mA，VR=5V，测试状况如下：
（VF规格：2.7—4.0V，IR规格: ≤10uA）
由以上测试结果可知，2PCS材料的VF、IR不在规格内，7PCS材料IR值超出规格，
3PCS材料VF、IR符合规格要求，经确认为良品。
2.抽样4PCS不良样品进行研磨分析，确认其焊线状况，图片如下：
由以上图片可知，线弧良好，符合我司规格要求。
2.3.将不良样品进一步溶胶，然后用小电流点亮确认其发光状况，发现晶片表面发光不均
存在严重的暗区(红色圈标示处)，不良图片如下：
由以上图片可知，晶片点亮时有发光不均匀的现象，表面存在严重的暗区，此不良现象为静
电击伤所致。我司机台、桌面都有接地，作业时都有戴静电环及吹离子风扇，不会造成材被
静电击伤的现象。
3.分析结论
由以上分析可知，客户反应的缺亮及IR为静电击伤所致。
4.建议请客户确认在检验及使用过程中是否做好静电防护措施。（如机台、桌面是否接地，作业人员操作时是否戴静电环及吹离子风扇等）
